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Nikon Instruments Europe B.V. | France

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Logiciel d’imagerie microscopique

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Intégration complète des commandes d’acquisition spécifiques au confocal à des fonctions d’analyse d’images avancée.

L'interface spécifique de NIS-Eléments  C destinée aux A1+/A1R+, aux microscopes confocaux multiphons A1 MP+/A1R MP+, au microscope confocal C2+ et aux systèmes d'imagerie confocales spectrales répond à l'ensemble des besoins d'acquisition. Le logiciel facilite l’observation des changements en temps réel et le suivi de l’intensité lors du photoblanchiment  et de la photoactivation grâce à une interface de contrôle bien conçue.

En association avec les fonctionnalités spécifiques au confocal, la plateforme NIS-Eléments  a été conçue pour couvrir toutes les étapes de la visualisation à la gestion des données en passant par l’analyse et le traitement des images. Ces nouvelles fonctions enrichissent les applications spécifiques confocales en leur ajoutant la possibilité de générer et d’exporter de données de manière fluide et facile. La nouvelle interface graphique utilisateur (GUI) facilite la configuration des instruments et le flux de travail des expériences tout en sécurisant l’acquisition, le stockage et l’analyse des données.

Le logiciel permet des projections d’intensité minimale et maximale dans le temps et sur l’axe Z. L’utilisateur  dispose d’un accès direct aux visualisations en mosaïque, aux rendus en volume et aux fonctions de rotation. NIS-Eléments  C prend en charge une gamme étendue de méthodes de traitement et d’analyse d’images avec des techniques telles que le seuillage binaire multiple, le comptage et la création de rapports automatisés, la déconvolution 3D (blind), la colocalisation, le suivi d’objets en 2D et l’affichage de kymographes.


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