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High Content Analysis

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Adquisición, revisión de datos y análisis automatizado de alta velocidad de la placa de pocillos.

El nuevo sistema de microscopio de alto contenido de Nikon combina el microscopio invertido Eclipse Ti con software NIS-Elements HC a fin de ofrecer una interfaz dedicada para rutinas de análisis y adquisición de alto contenido, incorporada a una base de datos integrada para administrar y procesar datos a la perfección.

El sistema incorpora toda la funcionalidad del microscopio Ti Perfect Focus con opciones intercambiables para autoenfoque piezoeléctrico de alta velocidad, manipulación de placa, fuente de luz de estado sólido y rápido cambio de longitud de onda además de la compatibilidad con toda la gama de cámaras de NIS-Elements. Por otro lado, el aumento y los filtros de fluorescencia son intercambiables, lo que aumenta las posibilidades de captura de imágenes y las opciones de diseño de ensayos experimentales.

Key Features

Velocidad y flexibilidad

Well-Plate

El sistema de análisis de alto contenido (HC) de Nikon, incorporado a la plataforma NIS-Elements, simplifica la adquisición, la revisión de datos, el análisis y la administración automatizada de alta velocidad de múltiples ejecuciones de la placa de pocillos. El sistema de análisis NIS-Elements HC cuenta con configuración de placa sencilla y paso a paso junto con componentes de hardware intercambiables para manipulación, autoenfoque, cambio rápido de filtro y opciones de detector seleccionables.


Revisión

Visualización en tiempo real de la adquisición de datos y avance del análisis para la inspección instantánea.

Pueden ejecutarse múltiples ensayos simultáneamente durante la fase de captura o después de la adquisición en estaciones fuera de línea.


Análisis

HCA Analysis

Mapas de calor de la placa, imágenes, máscaras binarias generadas, resultados de ensayos, etiquetado de muestras y otros metadatos se centralizan para acelerar el filtrado, la activación y el examen a fondo de los detalles celulares.


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