Nikon Instruments / Информационный центр / SIM

Nikon Instruments Information Center

SIM | SIM

Ключевые слова: STORM, флуоресценция, микроскопия сверхвысокого разрешения, система идеального фокуса (PFS)

Definition:SIM – это флуоресцентная оптическая технология сверхвысокого разрешения, которая увеличивает разрешение за счет использования интерференционных полос (муара), получающихся при наложении двух решеток друг на друга под углом.

ПРИНЦИП ДЕЙСТВИЯ:

В методе SIM разрешение увеличивается за счет использования интерференционных полос (муара), получающихся при наложении двух решеток друг на друга под углом. Муар различим под микроскопом, даже если размер ячейки одной или обеих исходных «решеток» слишком мал для того, чтобы быть разрешенным. В методе SIM одна из решеток – это структурированное возбуждающее излучение (полосы света, похожие на штрих-код), а другая – неизвестное распределение флуоресцентных зондов в образце. Так как параметры сетки освещения структурированы и, следовательно, известны, из муара можно получить информацию о расположении флуоресцентных зондов в образце. Муар может быть использован для построения как двух-, так и трехмерных синтезированных изображений высокого разрешения образца.

<a href=SIM" title="SIM" />

ИЗОБРАЖЕНИЕ:

Сравнение изображений помеченных YFP микротрубочек в клетках меланомы мыши В16 при обычной микроскопии (слева) и трехмерном (показан 1 слой) методе N-SIM (справа).

ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ:

При помощи метода SIM можно различать наноразмерные клеточные структуры, например, отдельные нити актина и внутреннюю мембранную систему митохондрии. Благодаря возможности быстро освещать образцы структурированной световой сеткой, метод SIM может быть успешно применен для работы с живыми, движущимися образцами. Это дает возможность наблюдать, например, за динамикой тубулина и кинезина в живых клетках.

КОНФИГУРАЦИЯ МИКРОСКОПА:

Система SIM от Nikon (поставляемая по лицензионному соглашению с Отделом управления технологическими разработками в сфере микроскопии структурированного освещения Университета Калифорнии в Сан-Франциско) основана на исследовательском инвертированном микроскопе Eclipse Ti с системой идеального фокуса (PFS) и объективом CFI Apo TIRF 100x с масляной иммерсией (числовая апертура 1,49). При работе по методу TIRF-SIM можно выполнять наблюдения TIRF более высокого разрешения, что позволяет получать более подробную информацию о структурах вблизи клеточной мембраны. Кроме того, обладая временным разрешением 0,6 с/кадр, этот метод является самым быстрым методом получения изображений среди аналогов и дает возможность регистрации быстро развивающихся процессов в клетках. Метод SIM с разрешением, практически вдвое превосходящим разрешение обычной световой микроскопии, подходит для получения изображений как зафиксированных, так и живых клеток и дает ценную информацию в исследованиях структуры, развития клеток и внутриклеточной коммуникации. Специальная подготовка образца не требуется; для получения изображений методом N-SIM можно использовать стандартные процедуры подготовки с одним или несколькими флуоресцентными зондами.