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Mots clés: STORM, microscopie à super résolution, fluorescence, Système de mise au point parfaite (PFS)

Définition:La technologie SIM est une technique d’imagerie optique en fluorescence à super résolution qui augmente la résolution en exploitant les motifs d’interférence (effets de moiré) créés lorsque deux grilles sont superposées à un certain angle

TECHNOLOGIE:

Dans l’imagerie SIM, la résolution est augmentée en exploitant les motifs d’interférence (effets de moiré) créés lorsque deux grilles sont superposées à un certain angle. Les effets de moiré peuvent être distingués sous le microscope, même lorsque l’une ou les deux grilles originales sont trop petites pour être observées. Dans la technologie SIM, l’une des grilles prend la forme d’une lumière d’excitation structurée (essentiellement des bandes de lumière similaires à un code à barres), tandis que l’autre est la répartition inconnue des sondes fluorescentes de l'échantillon. Puisque le motif de l'éclairage est structuré, et donc connu, il est possible d’obtenir des informations à propos du motif de fluorescence dans l’échantillon à partir des effets de moiré, qui peuvent à leur tour être utilisées pour créer à la fois des images en 2D et des reconstructions en 3D haute résolution de l’échantillon.

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IMAGE:

Comparaison de l’imagerie conventionnelle (à gauche) et de l’imagerie N-SIM 3D (une couche représentée) (à droite) de microtubules étiquetées avec la protéine YFP dans des cellules de mélanomes de souris B16.

APPLICATIONS:

La technique SIM permet l’observation de structures cellulaires à l’échelle nanométrique, par exemple, des filaments d’actine individuels et le système membranaire intérieur des mitochondries. Puisqu’elle accélère la fourniture de motifs lumineux structurés, l’imagerie SIM peut être appliquée avec succès à des échantillons vivants et en mouvement, permettant ainsi l’observation, par exemple, de la dynamique de la tubuline et de la kinésine dans les cellules vivantes.

CONFIGURATION DU MICROSCOPE:

Le système d’imagerie SIM de Nikon (disponible par le biais d’un contrat de licence avec l’Université de Californie, Bureau de gestion des technologies de San Francisco pour la microscopie à éclairage structuré (SIM)) s’appuie sur le microscope inversé de recherche Eclipse Ti équipé du système de mise au point parfaite (PFS) et d’un objectif à huile CFI Apo TIRF 100x (O.N. 1,49). Lorsqu’il est utilisé en mode TIRF-SIM, il permet des observations TIRF avec une résolution plus élevée rendant possible l’obtention d’informations plus détaillées à proximité de la membrane cellulaire et offrant les capacités d'imagerie les plus rapides de l'industrie avec une résolution temporelle de 0,6 s/image qui garantit la capture d’événements cellulaires rapides. Adaptée à la fois à l’imagerie des cellules fixées et des cellules vivantes, la technique SIM double la résolution de la microscopie optique traditionnelle et constitue un atout inestimable dans les études de la structure, du développement et de la communication intracellulaire. Aucune préparation spéciale des échantillons n'est nécessaire. Ainsi, l'imagerie N-SIM est possible en suivant les protocoles habituels de préparation des échantillons pour une ou plusieurs sondes.